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快速·灵活·强大丨HPROBE 磁性自动测试设备 开启晶圆测试新纪元

来源:tg淘金网最新版本    发布时间:2024-10-23 21:19:27

在全球半导体产业快速地发展的今天,中国正以其前瞻性的战略布局和政策支持,推动国内半导体行业的跨越...

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  在全球半导体产业快速地发展的今天,中国正以其前瞻性的战略布局和政策支持,推动国内半导体行业的跨越式发展。随着物联网、大数据和人工智能驱动的新计算时代的发展,我国对半导体器件的需求日渐增长,对器件可靠性与性能指标的要求也越发严格。

  晶圆测试是半导体制作的完整过程中不可或缺的一步,它能保证芯片在制作的完整过程中的每一个阶段都能达到设计规格和性能要求。自动化和高精度的测试设备能明显提高测试速度,缩短生产周期;通过精确检测,确保每一片晶圆的可靠性和一致性,降低不良品率;有效的测试能够大大减少返工和废品,以此来降低生产成本。

  在晶圆测试中,磁性器件需要在磁场扫描下测试,而传统的设备和方法较为耗时,会增加芯片的制造成本。在晶圆上方以高扫速改变磁场是工业化大批量生产正面临的挑战,今天要为大家介绍的Hprobe 磁性自动测试设备

  Hprobe 磁性自动测试设备是通过实现每个器件的快速测试时间,以更高的通量对晶圆在磁场下进行电探测。其专利技术3D磁场发生器和Hcoil-2T磁场发生器,能够很好的满足大规模生产中对晶圆级电子探测的要求,独特设计的磁场发生器通过电源供电和空气冷却,不需要复杂的液体冷却。

  1、三维磁场发生器:三维磁场发生器能够产生三维磁场,其中每一个空间轴可被独立驱动。该发生器具有多种组态,可在特定的1D、2D或3D方向上更大化磁场强度或表面覆盖。磁场的扫描速率在场强和角度上是可控的,扫描速率可达每秒10000件样品。

  Hcoil-2T 磁场发生器是一种创新性的超紧凑型技术,能够以更快的扫描速度在单一方向产生超强磁场。利用这项技术,可以在不到20微秒的时间内达到±2特斯拉磁场。

  1、测试头:磁场发生器集成在测试头中,后者被安装在自动晶圆探针台上,与单个直流或射频探针和探针卡兼容。

  测试设备使用高端控制和传感设备。测试设备的仪器组态可根据客户的真实需求而配置。

  磁场发生器配有磁场校准组件,由三维磁传感器和自动定位系统组成,用于在与被测设备完全相同的位置校准磁场。

  带图形用户界面GUI(graphical user interface)的软件,用于磁场的生成、校准,以及MRAM和磁传感器的自动化电测量。软件还包括晶圆厂自动化和生产控制功能。

  IBEX平台与200毫米和300毫米自动晶圆探针台兼容,专用于测试MRAM磁性隧道结,以及基于自旋转移矩(STT-MRAM)、自旋轨道矩(SOT-MRAM)和电压控制(VC-MRAM)技术的位单元。该系统能够在快速可变磁场和超窄脉冲信号下进行高通量测试。1、IBEX-P MRAM参数测试

  IBEX使用Hprobe的带有图形用户界面的专用一站式软件,既可在研发环节中手动操作,又可在全自动晶圆厂中自动操作。该软件包括专用于MRAM器件的更优化生产测试程序。

  该系统采用Hprobe的磁场发生器专利技术,将磁场发生器集成到测试头中,后者安装在晶圆探针台上。

  该测试设备由精选高端仪器驱动, 从而以更快的测试时间来表征MRAM磁性隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌,并使用Hprobe的专有构架模块集成。

  IBEX-F系统专用于测试位阵列和片上系统(SoC)嵌入式MRAM存储器。

  该测试设备由精选高端仪器驱动,从而以更快的测试时间来表征MRAM磁隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌,并使用Hprobe的专有构架模块集成。

  与传统采用电荷存储数据的半导体存储器不同,MRAM(磁阻随机存取存储器)是一种非易失性存储器,使用磁化(例如电子自旋)方向来存储数据位。与现有的半导体技术相比,MRAM具有许多优点,因为它本质上是非易失性的(例如,当电源切断时能够保存数据),同时还表现出非常好的耐久性(例如读/写周期数)和较低的运行功率。新新一代的MRAM为pSTT-MRAM(垂直自旋转移矩随机存取存储器),已被业界选择取代28/22nm以下技术节点的嵌入式闪存,目前各大半导体代工厂均可提供该产品。

  LINX平台与200mm和300mm自动晶圆探针台兼容,用于测试基于xMR(磁阻)和霍尔效应技术的磁性传感器。该系统能够在静态和快速变化的磁场下来测试,磁场在空间任何方向可控。LINX-1–磁性传感器测试仪

  该产品使用Hprobes的带有图形用户界面的专用一站式软件,以单通道或多通道配置来生成和校准磁场,包括静态或动态模式下优化的磁场生成模式。该系统具有可编程功能,可与用户的测试平台集成。

  LINX-1采用Hprobe专有的磁场发生器技术,与3轴自动化测试头集成。它能够正常的使用手动或自动加载的探针卡进行操作。

  磁性传感器检验测试由磁铁或电流产生的磁场和地磁场的强度。它们将磁场或磁编码信息转换成电信号,供电子电路处理。磁性传感器正慢慢的变流行,因为它们能用于多种应用场合,如传感位置、速度或运动方向。磁性传感器有以下几种类型:

  巨磁阻(GMR)传感器具有三明治结构,由被界面导电层隔开的磁性薄膜组成。该传感器有两种电阻状态:当两个磁性层磁化方向平行时,器件为低阻态;而当两个磁性层磁化方向相反时,器件为高阻态。GMR传感器是一种温度稳定性高的精密磁场传感器。它们已被大范围的应用于硬盘驱动器(HDD)行业及工业应用中。

  法国Hprobe公司成立于2017年,总部在具有“法国硅谷”的美誉格勒诺布尔,是SPINTEC(全球领先的自旋电子学研究实验室之一)的一家衍生公司。法国Hprobe基于独有的三维磁场发生器等专利技术,致力于为磁性器件和传感器的晶圆级表征和测试提供系统解决方案。目前产品提供的服务内容涵盖磁技术开发所有阶段,能针对性的为MRAM(STT、SOT、VCMA)和磁性传感器(TMR、GMR等)进行表征和测试提供专用设备和服务。

  依托投资方的自身优势,普瑞亿科半导体事业部聚焦国内半导体产业工艺发展,与Hprobe协力打造国内领先的晶圆级表征和检测系统解决方案,致力于为中国半导体行业客户提供研究级和生产级的MRAM和磁检测解决方案和服务支持。

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